연도 | 논문제목 | 학술지명 | 구분 | ISSN | 권 | 호 | 쪽 |
게재연월 (YYYYMM)
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주 저자수
| 기타 저자수 | 주저자명 | 기타 저자명 |
2024 | Effect of nanoscale roughness on four different atomic force microscopy probes in aqueous solutions using adhesion force measurement | Applied Surface Science | SCIE | 0169-4332 | 645 |
| 1-9 | 202402 | 2 | 1 |
Gukhwa Hwang, Gilsang Hong
| Hyunjung
Kim |